非接触式光学测厚仪LensThick系列

测量原理：

  LensThick非接触式光学测厚仪利用低相干光干涉测量方法来精确测量厚度，以宽谱光源作为相干光源，其相干长度短，只有在测量光和参考光的光程相等时才能产生干涉峰值，因此具有很好的空间定位特性，测厚仪内置光学干涉仪，通过计算透镜前后镜面顶点对应干涉峰之间的距离变化可以得出透镜的中心厚度。

 

典型应用:

• 光学元件和透镜组件：测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔

•  隐形眼镜和人工晶状体：测量中心厚度、矢高和群折射率

• *导管窥镜：可同时测量管壁厚、内径和外径

• LCD、LED、OLED和AMOLED显示屏：测量总厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层

• 半导体：硅/砷化镓晶片

• 抛光玻璃：测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻。
  

测量过程：

    （1）将光学测量头对准被测产品。

    （2）激光通过光学测量头照射到材料表面。

    （3）光学测量头收集反射光并将其返回到系统的干涉仪进行分析。

    （4）测量数据通过USB传输到电脑。

    （5）LensThick软件用于显示测量结果、设置参数及输出数据报告。

    光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时优化。

    自动峰值模式：使用操作员创建的样品设计文件，可以定义*多32个反射面（31层）的预期峰值位置，软件可自动识别在指定的阈度内*接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。

⑴ 定义为测量不确定度或*大厚度误差，置信度≥99.7%。
⑵ 整个运行环境条件的不确定性。
⑶ 60分钟测量周期的标准偏差。
⑷ 取决于被测材料在1.3μm波长下的反射率。该规格书是在4%反射条件下给出的。
  当反射条件较低时，重复性*坏会降低到约±0.15μm。
⑸ 特性性能，但不是一定的。